三維相移電子散斑干涉儀TS-SI-3P產(chǎn)品概述：相移電子散斑干涉（ESPI)技術(shù)是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發(fā)展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光干涉和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。可用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應力測量。 三維相移電子散斑干涉儀可滿足物體表面面內(nèi)位移和離面位移同時測量的要求。該儀器采用高性能半導體激光器作光源，并配以電子散斑條紋實時顯示和位相處理軟件，使得操作方便，測量結(jié)果兼容性強（便于通用數(shù)據(jù)處理軟件接口）。主要技術(shù)指標◆光源：半導體泵浦固體激光器（綠光） 輸出功率大于20mw，波長532nm◆相機：1280 1024USB2.0數(shù)字攝像頭◆鏡頭：25mm定焦鏡頭（標配），可選配其它C接口鏡頭◆工作距離：400～800mm◆相移器：5nm◆演示試件：圓盤受均布載荷，三點彎曲梁◆最大范圍：￠300mm◆尺寸：520cm 370cm 250cm◆重量：22kg儀器特點●可以測得被測物的三維位移場，獨立得到U、V、W場l 采用單縱模半導體泵浦綠固體激光器作為光源，使得條紋更清晰、更穩(wěn)定l 采用高分辨率USB數(shù)字攝像頭進行圖像采集使得連接更可靠、處理更快捷l 采用光纖激光分光器，使用和調(diào)節(jié)都更加方便l 專門設計的空間相移器及其控制器，可以直接獲得位移場的三維分布圖l 儀器結(jié)構(gòu)合理、輕巧、美觀、同時具有良好的剛度及調(diào)節(jié)方便的特點。l 儀器中的光學部件設計、加工考究，如擴束鏡是過半球形，具有擴束光斑大，均勻等優(yōu)點；全反射鏡是針對532nm激光波長的，反射率達99.9%，真空鍍硬膜，具有耐磨損，耐腐蝕等優(yōu)點。