便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀四探針電阻率檢測儀四探針電阻率儀型號：KDK-KDY-1A概述便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100 cm標準樣片的測量瓿差不超過 3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準一級機的水平。測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9 cm。可測方塊電阻：0.1～1999 /口當被測材料電阻率 200 cm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC0.1mA～10mA分兩檔10mA量程：0.1～1mA連續(xù)可調(diào)10mA量程：1mA～10mA連續(xù)可調(diào)恒流精度：各檔均優(yōu)于 0.1%適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv靈敏度：100 v準確度：0.2%（ 2個字）（4）供電電源：AC：220V 10%50/60HZ功率8W（5）使用環(huán)境：相對濕度 80%（6）重量、體積重量：2.2公斤體積：寬210 高100 深240（mm）(7)KD探針頭壓痕直徑：30/50 m間距：1.00mm探針合力：8 1N針材：TC