KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀產(chǎn)品簡介 KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法 兩探針法 設(shè)計(jì)。它適合于測量模截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。特別是對多晶材料的測量，由于多晶晶粒間界處，雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化，這種影響對四探針法更為嚴(yán)重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率。本儀器除適合測量體形有規(guī)則的單晶棒外，也適合測量多晶棒。兩探針法測量水平區(qū)熔多晶鍺電阻率，在我國已有四十多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，對區(qū)熔鍺錠橫截面面積的變化已總結(jié)出一套計(jì)算方法，本儀器采用李賀成教授提出的計(jì)算公式編寫程序，可用微機(jī)HQ-710C處理區(qū)熔鍺錠的測量數(shù)據(jù)，或采用KDY測量系統(tǒng)專用軟件測量數(shù)據(jù)，并根據(jù)北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴(kuò)大了微處理機(jī)的數(shù)據(jù)處理范圍。