測試對象無源元件:電容器,電感器,磁芯,電阻器,變壓器,芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量.半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C VDC特性,晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析.其它元件:印刷電路板,繼電器,開關(guān),電纜,電池等的阻抗評估.介質(zhì)材料:塑料,陶瓷和其它材料的介電常數(shù)及損耗角評估.磁性材料:鐵氧體,非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估.半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C V特性.液晶材料:液晶單元的介電常數(shù),彈性常數(shù)等C V特性技術(shù)指標(biāo) 測試參數(shù)|Z|,|Y|,C,L,X,B,R,G,D,Q, ,ESR,Rp 測試頻率TH2828S20Hz~1MHz,1mHz分辨率 TH282820Hz~1MHz, 6000多個頻點(diǎn) TH2828A50Hz~1MHz,44個頻點(diǎn) 測試電平正常:5mV~2V.恒電平:10mV~1V.1mV步進(jìn) 輸出阻抗30 /100 可選 準(zhǔn)確度TH2828S0.05% TH28280.05% TH2828A0.1% 顯示范圍|Z|,R,X0.00001 ~99.9999M |Y|,G,B0.00001 S~99.9999S C0.00001pF~9.99999F L0.00001 H~9999.99H D0.00001~9.99999 Q0.00001~99999.9 (DEG) 179.999 ~179.999 (RAD) 3.14159~3.14159 % 999.999%~999.999% 測量時間( 1KHz)快速:32ms, 中速:90ms, 慢速:650mS 等效電路串聯(lián) 并聯(lián) 量程方式自動 保持 觸發(fā)方式內(nèi)部 手動 外部 平均次數(shù)1~255 清零功能開路 短路 負(fù)載 內(nèi)DC偏置源0V 1.5V 2V比較器10擋分選和擋計數(shù)功能 存儲器可保存20組設(shè)定值 接 口RS232C/HANDLER/USB/GPIB(選件)