Renishaw坐標(biāo)測量機(jī)掃描測頭Renishaw的掃描測頭系列產(chǎn)品均為無源傳感器，具有輕巧的機(jī)構(gòu)和分離的光學(xué)測量系統(tǒng)，能夠進(jìn)行快速精確的掃描測量。 掃描測頭是每秒可采集數(shù)百個表面測量點(diǎn)的微型測量機(jī)。坐標(biāo)測量機(jī)軟件可以利用這些數(shù)據(jù)提供被測工件形狀、尺寸及位置的相關(guān)信息。掃描測頭也可用于采集離散點(diǎn)，與觸發(fā)式測頭類似。Renishaw掃描測頭獨(dú)具特色的輕巧無源機(jī)構(gòu)（無馬達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學(xué)測量系統(tǒng)直接（無需通過測頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸）測量探針的變形量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測量機(jī)選用。。掃描測量提供了從棱柱形工件或其它復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。觸發(fā)式測頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進(jìn)行檢測，掃描測量可謂理想之選。要實(shí)現(xiàn)這一功能，就需要一個包括傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制及數(shù)據(jù)分析在內(nèi)的全新方案。掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)？掃描測頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機(jī)器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測量時(shí)，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數(shù)據(jù)。在整個測量過程中，須將測頭探針的偏移量保持在測頭的測量范圍內(nèi)。要想取得最佳測量結(jié)果，需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成，以及先進(jìn)的濾波運(yùn)算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動算適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率（表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多）。