偏擺檢查儀主要用于檢測軸類、盤3017型類另件的徑向、圓跳動和端面圓跳動，產(chǎn)品設(shè)計新穎，美觀大方，精度高操作極為方便。主要技術(shù)參數(shù)：1）莫氏2號頂尖60錐面對莫氏錐的徑向圓跳動 0.005mm2）頂類軸線100mm范圍內(nèi)對導(dǎo)軌的平行度（水平垂直方向） 0.006mm3）被測零件是最大直徑270mm ※　偏擺檢查儀 偏擺檢查儀用途：該儀器主要用于檢測軸類、盤類另件的徑向、圓跳動和端面圓跳動，產(chǎn)品設(shè)計新穎，美觀大方，精度高操作極為方便。偏擺檢查儀主要技術(shù)參數(shù)：1、莫氏2號頂尖60 錐面對莫氏錐的徑向圓跳動 0.005mm2、頂尖軸線在100mm范圍內(nèi)對導(dǎo)軌的平行度（水平垂直方向） 0.006mm3、被測零件最大直徑270mm-460mm4、測量長度300mm、500mm、1000mm、1500mm ※　齒輪跳動檢查儀 齒輪跳動檢查儀用途：齒圈徑向跳動△Fr，在齒輪一轉(zhuǎn)范圍內(nèi)，測頭在槽齒內(nèi)或齒輪上，與齒高中部雙面接觸，測頭相對于齒輪軸線的最發(fā)動量。為此，齒圈徑向跳動的檢查是借助于原始齒條形的測量頭時使用，檢查時，將裝在芯軸上的被檢查齒輪，因此在齒輪跳動檢查儀兩頂針間，把具有原始齒條齒形的測量頭，依次插入齒輪的齒間內(nèi)，并用指示表示出測量頭位置對齒輪轉(zhuǎn)動軸線的跳動量。 ※　新型偏擺檢查儀 新型偏擺檢查儀用途：主要用于檢測軸類，盤類等高精度零件的徑向，圓跳動和斜向端面的圓跳動。新型偏擺檢查儀的特點：精度高，配有一對莫氏4＃硬質(zhì)頂尖，提高了偏擺儀的測量精度，增大了被側(cè)零件的支撐重量。表面設(shè)計精確合理，前后、左右調(diào)節(jié)平穩(wěn)自如，操作方便，表架鋼性好，提高了檢測儀器的靈敏性，特別適用于精密零件的檢驗。新型偏擺檢查儀主要技術(shù)參數(shù)：(1)、徑向回轉(zhuǎn)精度　0.001mm。(2)、側(cè)導(dǎo)軌在全長上對兩頂點連線的平行度0.004mm（A05型）0.007（A08型）。(3)、被測零件最大直徑300mm。(4)、被測零件最大長度　500mm、800mm。 ※　普通型測微儀 普通型測微儀采用花崗石為工作臺，其工作面平面度精度高，且穩(wěn)定性好，受環(huán)境溫度影響小。立柱采用不銹鋼材料，可防銹，抗腐蝕。采用精密微分頭作微調(diào)裝置，使測頭接觸工作的微調(diào)量0.01mm。回轉(zhuǎn)支桿提供了可裝夾第二只測量表（或測量傳感器），從而擴(kuò)大了本產(chǎn)品的使用功能。 ※　微調(diào)型測微儀 微調(diào)型測微儀的詳細(xì)說明：用途：對精密零部件的平行、平面測量。測量中大小型零部件的尺寸誤差和位置誤差。花崗石測微儀產(chǎn)品特點1）采用花崗石為工作臺，其工作面平面度精度高，且穩(wěn)定性好，受環(huán)境溫度影響小。2）立柱采用不銹鋼材料，可防銹，抗腐蝕。3）采用精密微分頭作微調(diào)裝置，使測頭接觸工作的微調(diào)量0.01mm。4）回轉(zhuǎn)支桿提供了可裝夾第二只測量表（或測量傳感器），從而擴(kuò)大了本產(chǎn)品的使用功能 ※　比較儀 　　利用相對法進(jìn)行測量的長度測量工具(圖:比較儀),主要由測微儀和比較儀座組成。測量時，先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組，再用此量塊組使測微儀指針對零，然后換上被測工件，測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。按測微儀所采用的放大原理，比較儀可分為機(jī)械式比較儀、光學(xué)比較儀和電學(xué)比較儀3種 機(jī)械式比較儀和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機(jī)械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機(jī)構(gòu)是杠桿，其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機(jī)械摩擦放大機(jī)構(gòu)的指示表（圖[扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲，另一端向左扭曲的金屬薄片（寬度為0.1毫米左右，厚度為0.005毫米左右），稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當(dāng)測桿上下移動時，可動支架把上下位移轉(zhuǎn)換為左右位移，使扭簧絲縮短或伸長，并帶動指針轉(zhuǎn)一個角度，從表盤上即可讀出測桿的位移量。扭簧測微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達(dá)0.02微米。示值范圍一般為 50個分度值。機(jī)械式比較儀常用在車間和計量室測量工件外徑和厚度等。 光學(xué)比較儀利用光學(xué)測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式3種。①立式光學(xué)比較儀：又稱立式光學(xué)計,圖3[光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理（見自準(zhǔn)直儀）設(shè)計的。分劃板位于物鏡焦平面上，平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測桿上下移動時，平面反射鏡繞支點轉(zhuǎn)動一個很小角度，由平面反射鏡反射回去的光線，經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學(xué)測微儀的分度值為1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計適宜在計量室使用，測量范圍為0～180毫米，常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測量工件的外徑、厚度。②臥式光學(xué)比較儀：又稱臥式光學(xué)計，其工作原理與立式光學(xué)計相同，測量范圍為0～500毫米，適用于在計量室測量較大的或在立式光學(xué)計上不易定位的工件，如圓盤等，也常利用測孔附件測量孔徑。③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計,其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計相似，但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外，還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀，其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。 電學(xué)比較儀常用電感式或電容式測微儀（見長度傳感器）作為放大、指示部件。圖4[數(shù)字顯示電感式比較儀]是數(shù)字顯示的電感式比較儀，其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾種。