書(shū)名:光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編電子光學(xué)和其他物理光學(xué)儀器卷作者:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社第四編輯室　編出版社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版日期:2008年11月ISBN:9787506650564頁(yè)數(shù):253開(kāi)本:大16開(kāi)市場(chǎng)價(jià)格:￥86元會(huì)員價(jià)格:￥71元VIP價(jià)格:￥69元贈(zèng)送積分:86分版次: 瀏覽次數(shù):1 內(nèi)容簡(jiǎn)介隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和現(xiàn)代生產(chǎn)過(guò)程自動(dòng)化程度的不斷提高，各類光學(xué)儀器在國(guó)民經(jīng)濟(jì)、社會(huì)發(fā)展和國(guó)家信息化建設(shè)中發(fā)揮著日益重要的作用。有關(guān)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化的工作取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步，陸續(xù)制定了一系列用于國(guó)民經(jīng)濟(jì)各行業(yè)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。這些光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)為我國(guó)各類光學(xué)儀器的設(shè)計(jì)、研制、生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、使用提供了重要的技術(shù)依據(jù)，對(duì)推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步，促進(jìn)企業(yè)改進(jìn)和提高產(chǎn)品質(zhì)量，維護(hù)消費(fèi)者利益以及加強(qiáng)行業(yè)管理均起到了重要的作用。為了適應(yīng)光學(xué)儀器技術(shù)發(fā)展的需要，加強(qiáng)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)的管理，促進(jìn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的貫徹和實(shí)施，更好地滿足工程技術(shù)人員和管理人員對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的需求，中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社根據(jù)光學(xué)儀器儀表使用的實(shí)際情況，對(duì)現(xiàn)行光學(xué)儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了匯總整理，組織編輯了《光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編》系列叢書(shū)，以便為光學(xué)儀器行業(yè)的技術(shù)人員及相關(guān)科技人員提供系統(tǒng)的、實(shí)用的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)資料。 目錄OB/T6360 1995　激光功率能量測(cè)試儀器規(guī)范GB7247.1 2001　激光產(chǎn)品的安全第1部分：設(shè)備分類、要求和用戶指南GB7667 2003電子顯微鏡x射線泄漏劑量GB/T13739 1992　激光輻射橫模鑒別方法GB/T13742 1992　光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確度GB/T15074 2008　電子探針定量分析方法通則GB/T15244 2002　玻璃的電子探針定量分析方法GB/T15245 2002　稀土氧化物的電子探針定量分析方法GB/T15246 2002　硫化物礦物的電子探針定量分析方法GB/T15247 1994　碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法靈敏度曲線法(檢量線法)GB/T15616 1995　金屬及合金的電子探針定量分析方法GB/T15617 2002　硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法GB/T17359 1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則GB/T17360 2008　鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法GB/T17361 1998沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及x射線能譜鑒定方法GB/T17362 1998　黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法GB/T17363 1998　黃金制品的電子探針定量測(cè)定方法GB/T17364 1998　黃金制品中金含量的無(wú)損定量分析方法GB/T17365 1998　金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法.GB/T17366 1998　礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒℅B/T17506 2008　船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針?lè)治龇椒℅B/T17507 2008　透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件GB/T17722 1999　金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法GB/T17723 1999　黃金制品鍍層成分的X射線能譜測(cè)量方法GB/T187352002　分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范GB/T18873 2008　生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則GB/T18907 2002　透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法-GB/T19500 2004　X射線光電子能譜分析方法通則 書(shū)名:光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編電子光學(xué)和其他物理光學(xué)儀器卷作者:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社第四編輯室　編出版社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版日期:2008年11月ISBN:9787506650564頁(yè)數(shù):253開(kāi)本:大16開(kāi)市場(chǎng)價(jià)格:￥86元會(huì)員價(jià)格:￥71元VIP價(jià)格:￥69元贈(zèng)送積分:86分版次: 瀏覽次數(shù):1 內(nèi)容簡(jiǎn)介隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和現(xiàn)代生產(chǎn)過(guò)程自動(dòng)化程度的不斷提高，各類光學(xué)儀器在國(guó)民經(jīng)濟(jì)、社會(huì)發(fā)展和國(guó)家信息化建設(shè)中發(fā)揮著日益重要的作用。有關(guān)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化的工作取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步，陸續(xù)制定了一系列用于國(guó)民經(jīng)濟(jì)各行業(yè)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。這些光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)為我國(guó)各類光學(xué)儀器的設(shè)計(jì)、研制、生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、使用提供了重要的技術(shù)依據(jù)，對(duì)推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步，促進(jìn)企業(yè)改進(jìn)和提高產(chǎn)品質(zhì)量，維護(hù)消費(fèi)者利益以及加強(qiáng)行業(yè)管理均起到了重要的作用。為了適應(yīng)光學(xué)儀器技術(shù)發(fā)展的需要，加強(qiáng)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)的管理，促進(jìn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的貫徹和實(shí)施，更好地滿足工程技術(shù)人員和管理人員對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的需求，中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社根據(jù)光學(xué)儀器儀表使用的實(shí)際情況，對(duì)現(xiàn)行光學(xué)儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了匯總整理，組織編輯了《光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編》系列叢書(shū)，以便為光學(xué)儀器行業(yè)的技術(shù)人員及相關(guān)科技人員提供系統(tǒng)的、實(shí)用的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)資料。 目錄OB/T6360 1995　激光功率能量測(cè)試儀器規(guī)范GB7247.1 2001　激光產(chǎn)品的安全第1部分：設(shè)備分類、要求和用戶指南GB7667 2003電子顯微鏡x射線泄漏劑量GB/T13739 1992　激光輻射橫模鑒別方法GB/T13742 1992　光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確度GB/T15074 2008　電子探針定量分析方法通則GB/T15244 2002　玻璃的電子探針定量分析方法GB/T15245 2002　稀土氧化物的電子探針定量分析方法GB/T15246 2002　硫化物礦物的電子探針定量分析方法GB/T15247 1994　碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法靈敏度曲線法(檢量線法)GB/T15616 1995　金屬及合金的電子探針定量分析方法GB/T15617 2002　硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法GB/T17359 1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則GB/T17360 2008　鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法GB/T17361 1998沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及x射線能譜鑒定方法GB/T17362 1998　黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法GB/T17363 1998　黃金制品的電子探針定量測(cè)定方法GB/T17364 1998　黃金制品中金含量的無(wú)損定量分析方法GB/T17365 1998　金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法.GB/T17366 1998　礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒℅B/T17506 2008　船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針?lè)治龇椒℅B/T17507 2008　透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件GB/T17722 1999　金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法GB/T17723 1999　黃金制品鍍層成分的X射線能譜測(cè)量方法GB/T187352002　分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范GB/T18873 2008　生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則GB/T18907 2002　透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法-GB/T19500 2004　X射線光電子能譜分析方法通則