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公司基本資料信息
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●?全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
●?獨特的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找最佳位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
●?優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動力學測定、1～3次曲線擬合、1～4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
●?采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機對話界面。
UV762雙光束紫外可見分光光度計技術參數(shù)：
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波長范圍： |
200nm～1100nm |
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波長最大允許誤差： |
±0.5nm |
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波長重復性： |
≤0.2nm |
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透射比最大允許誤差： |
±0.5%（T） |
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透射比重復性： |
0.2%（T） |
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光譜帶寬： |
2nm |
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基線平直度： |
±0.004A(200nm～1000nm) |
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漂移： |
≤0.004A/h(500nm處，預熱2小時) |
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雜散光： |
≤0.15%(T)（在220nm處,?以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定) |
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電源： |
AC220V±22V??50Hz±1Hz |
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