X-RiteiCPlateⅡ印版檢測儀系列 X-RiteiCPlateⅡ印版檢測儀系列 ——快捷精確節(jié)能的印版質量控制解決方案 X-Rite的便攜式iCPlateⅡ成功解決了直接制版CTP工藝中最難的問題之一——快速而精確的印版質量控制。通過內置的高精度攝像機，iCPlateⅡ能分析印版的網點百分比、網線數(shù)、網點形狀、加網角度等，并顯示在液晶屏上。您只需按一下測量頭，就可以開始測量，并且測量的結果可以立即在iCPlateⅡ液晶顯示屏上看到，通過iCPlateⅡ您甚至能將網點放大，檢查其形狀，從而看到印版是否有擦痕。由于iCPlateⅡ使用了低功耗的液晶屏，您可以測量30,000次以上而不必更換電池。 iCPlateⅡ系列產品組合有四種供您選擇： iCPlateⅡBasic iCPlateⅡBasic+PQS iCPlateⅡAdvanced iCPlateⅡAdvanced+PQS (注：PQS為可選配高端品控軟件) · iCPlateⅡBasic為印版測試系統(tǒng)的基本款儀器，它可以測量網點百分比、通過測量做可視分析，適用于印版網點及調幅網點的樣品測量。 · iCPlateⅡAdvanced是目前為止功能最多、適用范圍最廣的印版測量儀，從CTP版材到傳統(tǒng)印版都可以，通過其環(huán)形照明和三種不同的燈泡，既能測量陰圖版和陽圖版，也能測調頻或調幅網點。它可以再現(xiàn)網點直徑、網線數(shù)、網角、印版特性、樣本數(shù)據(jù)、視覺密度,并可利用軟件將此信息傳入電腦。 · TabwizardⅡ品控軟件和TargetⅡ標準測試軟件是iCPlateⅡAdvanced和iCPlateⅡBasic均包含的兩款軟件，您也可以選配PQS高端品控軟件配合iCPlateⅡ使用。