射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。特別是最近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTMF963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。為滿足這種需求，暢銷全球的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度。通過配置新型1次濾光片和高計數電路，靈敏度比以往機型提高2倍以上！ 配備新型1次濾光片 為提高Cd、Pb等有害重金屬的檢測靈敏度，采用2種新型濾光片。通過提高S/N比、降低散射線，得到了比以往機型更高的靈敏度。 計數系統(tǒng)的改進 經過改進，系統(tǒng)能夠更高效地檢測從樣品產生的X射線熒光。以此降低了檢測器的飽和，可進行較以往機型更高輸出的測定。并有助于提高分析精度。通過在測定前預先設定目標管理精度，當達到管理值時，自動結束測定。特別是在目標元素含量較高時，可在短時間內自動結束測定。既提高了分析效率，又無需以往根據經驗設定測定時間，就可得到目的精度的分析結果，因此，便于管理。